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芯片研發(fā)專用低溫濕熱老化箱

發(fā)布時(shí)間:2024-08-04

訪問次數(shù):948

簡(jiǎn)要描述:

芯片研發(fā)專用低溫濕熱老化箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之又名高低溫試驗(yàn)機(jī),試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之

詳細(xì)介紹

芯片研發(fā)專用低溫濕熱老化箱構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗(yàn)箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫,低溫,或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

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芯片研發(fā)專用低溫濕熱老化箱參數(shù)

  技術(shù)參數(shù)
  1.溫度范圍:0℃-100℃ -20℃-100℃  -40℃-100℃  -60℃-100℃  -70℃-100℃
  2.低溫至常溫,也可按客戶需要定制非標(biāo)試驗(yàn)箱,低溫試驗(yàn)室
  3.溫度波動(dòng)度:±0.5℃(空載時(shí))
  4.溫度偏差:≤±2℃
  5.升降溫平均速率:0.7℃~1.0℃/min (空載時(shí))
  6.時(shí)間設(shè)定范圍:0~9999 小時(shí)
  7.電源要求:AC380V
  宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備(東莞市)有限公司主營(yíng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱,大型冷熱沖擊試驗(yàn)箱,小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱,三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱等產(chǎn)品。





 


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